大氣VOCs在線監(jiān)測系統(tǒng)評估工作指南（二）

3主要評價參數(shù)與指標

大氣VOCs在線監(jiān)測系統(tǒng)評估工作主要包括監(jiān)測設備評估和監(jiān)測站評估兩個部分，本章針對這兩部分的主要評價參數(shù)與指標進行介紹。

3.1設備主要參數(shù)和指標的選擇

由于大氣VOCs在線監(jiān)測系統(tǒng)監(jiān)測方法原理不同，設備主要參數(shù)和指標也存在差異。本指南結合目前市場上設備應用的實際情況、設備主要參數(shù)和指標選擇的原則，根據(jù)色譜法和色譜質(zhì)譜法的方法原理篩選并確定設備的主要參數(shù)和指標，包括:

●檢出限
●測量范圍
●零點噪聲
●精密度
●準確度.
●多點線性
●系統(tǒng)殘留影響
●分離度
●質(zhì)譜分辨率(僅適用于質(zhì)譜)

●質(zhì)量范圍(僅適用于質(zhì)譜)

●靈敏度(僅適用于質(zhì)譜)
●質(zhì)量穩(wěn)定性(僅適用于質(zhì)譜)

●質(zhì)量精度(僅適用于質(zhì)譜)

檢出限

檢出限是一個分析方法能夠可靠地檢出被分析物的最低濃度，它包括方法檢出限和儀器檢出限。其中，方法的檢出限是一個方法能可靠地檢出樣品或空包中待測物的最低濃度;儀器檢出限是儀器可檢出的背景噪聲之上最小的信號。用S,代表樣品測定值，S。代表空白值，o代表測定的標準偏差。當(S-S)的差值>3σ時，按照正態(tài)分布(S,-S) >0有99%的置信度。3σ作為檢出限的推薦值。當Sb趨向于0時， 檢出限即為方法檢出限。一般各物種檢出限的要求: C2-C.<0.15ppb, CEC12<0.1ppb。

測量范圍

VOCs物種的最高濃度和最小檢出限即測量范圍，該指標反映儀器能檢出最高濃度物種的定量能力。

測量范圍上限的確定方法為:使用動態(tài)稀釋裝置將57種非甲烷碳氫化合物混合標準氣體用高氨氣稀釋成不同濃度的標準氣進樣分析，以目標物濃度比為橫坐標，目標物峰面積(或峰高)比為縱坐標，用最小二乘法繪制校準曲線，保持線性相應所允許的VOCs最高濃度,即測量范圍上限。

零點噪聲

零點噪聲反映儀器信噪比情況，也稱基線空白。

零點噪聲的確定方法為:儀器開機并調(diào)出運行方法，使儀器處于最佳運行狀態(tài)，通入零氣標氣進行分析，連續(xù)測量7次，計算待測儀器監(jiān)測所測濃度值X，計算所取得數(shù)據(jù)的標準偏差S。即為儀器的零點噪聲。

零點噪聲一般要求小于3倍方法檢出限。

精密度

精密度反映的是分析方法或測量系統(tǒng)隨機誤差的大小，指在規(guī)定的測試條件下，同一個均勻樣品，經(jīng)多次測定所得結果之間的接近程度。精密度一般用偏差、標準偏差或相對標準偏差來表示。精密度一般可以選用多點線性的中間濃度點來進行測試，例如5 ppb。

精密度的偏差范圍一般要求小于15%。

準確度

準確度是指在一定實驗條件下，多次重復測定的平均值與真實值相符合的程度。準確度用絕對誤差和相對誤差表示。

一般評價準確度的方法可以用分析標準物質(zhì)、回收率測定或是不同方法進行檢驗比較。準確度的誤差范圍一般要求小于10%。

多點線性

多點線性反映儀器測量物種線性范圍的能力，是校準曲線的具體考核指標。校準曲線是用于描述待測物質(zhì)的濃度或量與相對的測量儀器的響應量之間定量關系的曲線。大氣VOCs測定的校準曲線通常包括一個零點和4~6個不同濃度級別的標準物質(zhì)點，采用合理的統(tǒng)計方法繪制而成。進行多點線性檢查時，一般線性相關系數(shù)要求r2≥0.95。

系統(tǒng)殘留影響

系統(tǒng)殘留影響即前一組采樣樣品測量后由于少量物質(zhì)殘留在監(jiān)測儀器中給下一次測量所帶來的誤差影響。系統(tǒng)殘留影響的判斷方法為:待測儀器穩(wěn)定運行后，通入多點線性濃度最高濃度點的標氣進行測量分析;高濃度分析結束后，再連續(xù)兩次通入零氣進行檢測分析，記錄兩次測量濃度值C。C。第二次零氣測量結果中，所有組分的濃度值需低于0.1ppb，才能滿足儀器在線監(jiān)測的性能要求。

分離度

分離度反映監(jiān)測物種之間分開的程度，主要指相鄰色諾峰保留時間之差與兩色譜峰峰寬均值之比，以R表示。 R越大，表明相鄰兩組分分離越好。一般當R<1時，兩峰有部分重疊;當R=1.0時， 分離度可達98%;當R≥1.5時，兩峰完全分離。大氣VOCs色譜法自動監(jiān)測系統(tǒng)關鍵物種的分離度要求大于1.5，即基線分離，80%物種的分離度要求大于1.0。

質(zhì)譜分辨率(僅適用于質(zhì)譜)

質(zhì)諾分辨率指質(zhì)譜儀分開相鄰兩個離子峰的能力，可表示為:R=m,/ (m.-m2)其中，R為分辨率，m、m,為質(zhì)量數(shù)， 且m.<m2。